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BC3199模數混合集成電路測試系統

BC3199模數混合集成電路測試系統,用于模擬集成電路、數字集成電路、音頻和數模混合集成電路的測試，生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析。

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更新日期
2025-08-04

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廠商性質
生產廠家

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LX9300大功率分立器件測試系統

LX9300大功率分立器件測試系統本測試系統不僅滿足大功率VDMOS的GFS(跨導)測試、IGBT功率參數的測試，還涵蓋中小功率半導體器件的測試，適用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試。

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更新日期
2025-08-04

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廠商性質
生產廠家

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1992
LX9600分立器件動態參數測試系統

LX9600分立器件動態參數測試系統是半導體分立器件動態參數測試的設備, 用于MOSFET、IGBT、快恢復二極管、雙極型三極管的動態參數測試。測試原理符合相應的國家標準、國家用標準，系統為模塊化、開放式結構，具有升級擴展潛能。

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更新日期
2025-08-04

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廠商性質
生產廠家

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1711
聚源SAR雷達測試系統

聚源SAR雷達測試系統是作為光學等常規手段的補充，主要用于夜晚等不適合光學作業情況下使用，對SAR的需求概況為“看的見，能定位”。微小型FMCW-SAR系統采用LTTC等微組裝技術，實現高頻、低頻和數字電路的3D互連，如圖 1所示；系統本身能內埋無源器件，從而能夠實現了SAR系統的輕量小型化，具有體積小，重量輕，分辨率高等特點

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更新日期
2025-08-03

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廠商性質
生產廠家

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1489